检测项目

插入损耗：测试波长范围1260-1650nm，精度0.05dB

回波损耗：测量范围≥55dB，分辨率0.01dB

偏振相关损耗：测试条件235℃，重复性≤0.02dB

方向性：指标要求≥55dB@1550nm

温度循环测试：-40℃~+85℃循环试验，符合GR-1209-CORE标准

检测范围

单模光纤熔融拉锥型分路器（1N结构）

平面光波导（PLC）分路器（最大164分支）

微光学阵列型保偏分路器

三端口CWDM/DWDM耦合分路器

多模光纤树形拓扑分路模块

检测方法

插入损耗测量：依据IEC61300-3-4:2012双向平均法

回波反射测试：采用OTDR法符合GB/T15972.40-2008规范

环境可靠性试验：执行TelcordiaGR-1209-CORE温度循环程序

偏振特性分析：基于ASTMD4565-20偏振扫描法

机械耐久性测试：参照YD/T1117-2001插拔次数≥500次

检测设备

YOKOGAWAAQ6370D光谱分析仪：波长范围600-1700nm，分辨率0.02nm

KeysightN7714A可调谐激光源：输出功率+13dBm，波长精度5pm

EXFOFTB-5700光功率计：动态范围+30~-70dBm，校准波长6点标定

AFLFOCIS7000端面检测仪：400倍数字显微镜，符合IEC61300-3-35标准

TektronixDSA8300采样示波器：80GHz带宽眼图分析模块

Chroma19032温控箱：温度变化速率3℃/min程控系统

AvensisT2000插损回损测试台：集成MPO/MTP多通道适配器

NewportRPM-8000偏振控制器：四象限压电陶瓷调节机构

ViaviMTS-8000多业务测试平台：支持OTDR与CD/PMD联合分析